久久青草免费97线频观,又大又粗又长做a大片,久久免费视频播放,免费播放的亚洲黄色网站小段,黄色国产免费观看,中文字幕日产乱码芒果,尹人成人

服務(wù)熱線:0415-6171977

薄膜分析
  X射線衍射對(duì)于研究外延層和其他薄膜材料具有特殊價(jià)值。采用精密的晶格參數(shù)的測(cè)量方法,可以很準(zhǔn)確的確定晶格的外延層及其基底。在外延器件中晶格參數(shù)匹配或不匹配是一個(gè)重要因素如磁泡存儲(chǔ)器的磁性石榴石薄膜,LED用摻雜砷化鎵薄膜和高速晶體管和其他重要的電子產(chǎn)品。對(duì)于薄膜X射線衍射的另一個(gè)應(yīng)用是使用高溫衍射通過測(cè)定晶格參數(shù)隨溫度的變化來確定熱膨脹系數(shù)。


      X射線衍射儀安裝G?bel鏡后,照射到樣品入射線平行度提高到0.1°以下,可實(shí)現(xiàn)對(duì)薄膜樣品進(jìn)行XRR、GIXRD測(cè)量,如下圖所示:

111.jpg 

     薄膜掠入射分析(GIXRD):精確分析多層膜中材料的組成、次序、取向等;  

     薄膜反射分析(XRR):針對(duì)多晶、單晶多層薄膜厚度、密度、粗燥度進(jìn)行精確分析;

 image002.png

     TaC/SiC = 4 nm/1.2 nm薄膜樣品 XRR測(cè)量

 image004.png

     TaC/SiC = 4 nm/1.2 nm薄膜樣品GIXRD測(cè)量

 image006.png

     TaC/SiC = 4 nm/1.2 nm薄膜樣品XRD測(cè)量 


    DX-2700BH、DX-2800衍射儀+G?bel鏡


遼公網(wǎng)安備 21060302000289號(hào)